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| 樓主 FLYER 發(fā)表于 2004-04-16 22:27:18 |
| 歡迎了解筆記本電腦主板測(cè)試工程相關(guān)工作的朋友交流 |
| 希望從事TE（test engineer）相關(guān)工作的朋友交流經(jīng)驗(yàn)。期待共同成長(zhǎng)，共同進(jìn)步。 |
| 1樓 FLYER 2004-04-16 22:28:30 |
| AOI 評(píng)估報(bào)告 評(píng)估對(duì)象 SJ50 Agilent KS200 CyberOptic 評(píng)估項(xiàng)目 1. GR&R 2. Cycle Time 3. Escape 4. False call 5. Injected faults 6. Programming 7. SPC 評(píng)估流程 4/29 – 5/5 Off line Setup P80 Programming Tuning GR&R test 5/6 – 5/15 On line KS200 solder side SJ50 component side False call test Escape test Cycle time 5/16 – 5/25 SJ50 solder side SJ50 can’t install ,because the width of equipment over 1000mm. KS200 component side ( 5/22 move out from line ) 5/27 – 5/31 New programming test ( change to 5/23,5/24 ) Injected faults test SPC tools review 各評(píng)估項(xiàng)目,依其重要性分述于下 一. GR&R 因SJ50( Agilent )及KS200( CyberOptic )均有X、Y坐標(biāo)的量測(cè)功能，故以Gauge R&R 對(duì)其量測(cè)的再現(xiàn)性做一評(píng)估與比較。SJ50在第一次的測(cè)量中，由于BGA之光源設(shè)定不當(dāng)，造成BGA部分?jǐn)?shù)據(jù)較差，雖在第二次測(cè)量時(shí)進(jìn)行了修正及調(diào)整，但整體而言，KS200仍略優(yōu)于SJ50，且X、Y數(shù)據(jù)較為平均。 請(qǐng)參閱AOI GR&R Report。 二. Cycle Time 以目前公司SMT產(chǎn)線的Layout組態(tài)，均以四高一泛( SS )及三高一泛( CS )居多，大多數(shù)機(jī)種的cycle time 都控制在40秒左右，此次on line測(cè)試的機(jī)種P80也不例外，故AOI cycle time目標(biāo)定為35秒。 就cycle time言，SJ50有較突出的表現(xiàn)，以P80 Component Side，零件數(shù)548， cycle time計(jì)33秒; 而當(dāng)programming ability測(cè)試時(shí)，機(jī)種為YA1，零件數(shù)1370，cycle time計(jì)37秒( SMT產(chǎn)線cycle time為54秒 )，其cycle time受零件數(shù)多寡影響不大，足以滿足公司之需求。 而KS200在on line階段，cycle time均無(wú)法達(dá)到目標(biāo)要求 ，測(cè)試YA1時(shí)更長(zhǎng)達(dá)68秒。故CyberOptic于5/28更換其Server，由原dual 1.7GHz CPU system 升級(jí)為dual 2.4GHz CPU system，預(yù)計(jì)可提升30%之效能。實(shí)際測(cè)量后，P80SS、P80CS、YA1SS的cycle time分別為30、31、39，亦均能符合公司之需求。 但至終，在cycle time方面SJ50仍優(yōu)于KS200。 請(qǐng)參閱AOI Cycle Time Report。 三. Escape and False call 一周的on line測(cè)試，SJ50及KS200在False call方面的表現(xiàn)相當(dāng)?shù)慕咏?，而且也都相?dāng)?shù)某錾茉跇O短的內(nèi)將false call降至100dppm以下，且都還有改善的空間。但相對(duì)的在Escape方面，KS200則優(yōu)于SJ50，且在這方面于programming ability 測(cè)試的時(shí)候，也得到相同的結(jié)果。 故于escape及false call這兩個(gè)相對(duì)的指標(biāo)上，整體而言KS200較優(yōu)于SJ50。 請(qǐng)參閱AOI Escape Test及AOI False Call Test Report。 四.Injected Faults Test 此項(xiàng)目中，共刻意制造了19個(gè)不良現(xiàn)象，SJ50共漏測(cè)5項(xiàng)，KS200則漏測(cè)1項(xiàng)，雖在Tuning后均可偵測(cè)到所有不良現(xiàn)象，但在這一項(xiàng)目，KS200仍優(yōu)于SJ50。 兩者在這方面的差異是:SJ50在完成程序之初，同時(shí)也完成檢驗(yàn)的一些基本限制，而當(dāng)有除外狀況發(fā)生時(shí)(即escape)，再新增限制條件于程序中或Library中，而這種除外狀況會(huì)因Library的增加及程序的調(diào)整而獲得改善；KS200則在程序完成之初，便擁有較嚴(yán)謹(jǐn)?shù)南拗茥l件，故一開(kāi)始可能有較高的false call，但隨著程序的調(diào)整，這狀況也隨之改善。 事實(shí)上，這一項(xiàng)目也是一種escape的測(cè)試，主在彌補(bǔ)bare board test的不足。 請(qǐng)參閱AOI Injected Faults Test Report。 五.Programming Ability 由于程序能力包含了花費(fèi)的時(shí)間、程序的品質(zhì)、程序的維護(hù)及調(diào)整，而這中間又都互有關(guān)系，并不容易單項(xiàng)一一抽出檢驗(yàn)，故在此以時(shí)間及板數(shù)為限制， 并且測(cè)試兩次，第一次主要檢驗(yàn)其程序之品質(zhì)，第二次則為檢驗(yàn)其程序之調(diào)校能力。 其結(jié)果，KS200在escape方面有較好的表現(xiàn)，但在false call則以SJ50有較佳的表現(xiàn)，但將false call的內(nèi)容一一檢視，則會(huì)發(fā)現(xiàn)有六種材料是2nd source，它們?cè)隗w積或外觀上有某些程度的差異，若把這六種2nd source材料排除在false call外，則兩方的false call是一樣的。 請(qǐng)參閱Programming ability Evaluation Report。 六.SPC Tools SPC則雙方各有優(yōu)點(diǎn)，SJ50以pgo file為程序基礎(chǔ)，再以五種chart配合其Filter的功能，可對(duì)P&P machine、feeder、location、P/N、package等進(jìn)行分析，亦可進(jìn)行cpk之計(jì)算，進(jìn)而了解生產(chǎn)線的制程能力，但以pgo編寫程序有一缺點(diǎn)，即生產(chǎn)線若重新最佳化，pgo組態(tài)亦隨之變更，這意味AOI程序也要隨之更動(dòng)，否則其machine及feeder之分析功能亦隨之喪失。而KS200則以原始cad編寫程序,也無(wú)cad與pgo的關(guān)聯(lián)文件，故無(wú)machine及feeder的分析能力，亦無(wú)cpk之計(jì)算功能，至于其它功能則與SJ50相若，但它有一優(yōu)點(diǎn)，即它可透過(guò)網(wǎng)絡(luò)上任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)，在不需安裝其它軟件下，以Browser觀察生產(chǎn)線的品質(zhì)狀況，且是real time的。故SJ50的SPC重于分析，KS200則易于使用。 請(qǐng)參閱AOI SPC Tools。 七.Other SJ50以X、Y軸 承載CCD及光源設(shè)備，逐一對(duì)機(jī)板一個(gè)個(gè)區(qū)域行檢驗(yàn)，在取得影像同時(shí)，便完成該區(qū)域之運(yùn)算;而KS200則恰恰相反，KS200以固定的 CCD Array及光源，以convoyer移動(dòng)機(jī)板來(lái)進(jìn)行影像擷取，待所有影像擷取完畢，再一次完成運(yùn)算，由于算法的關(guān)系，其運(yùn)算時(shí)間甚至比影像擷取要來(lái)得久。 由上述可知，兩設(shè)備在結(jié)構(gòu)上有極大的差異，雖SJ50的X、Y軸相較于SMT設(shè)備而顯得單純，但KS200相對(duì)顯得更為簡(jiǎn)單，這有利于往后的維修及保養(yǎng)。 在設(shè)備所能檢測(cè)之最大機(jī)板，SJ50為465*440mm，足應(yīng)付現(xiàn)有及未來(lái)之需求；KS200則為508*305mm，而目前公司寬度最寬之NB為270mm，亦足應(yīng)付現(xiàn)有任何一機(jī)種，但若未來(lái)或其它BU有超過(guò)300mm之機(jī)種，則需注意此限，或?qū)S200之CCD數(shù)量由12增為18，則其檢驗(yàn)最大機(jī)板則增為508*440mm。 結(jié)論 兩設(shè)備在AOI的規(guī)格、配備及實(shí)際測(cè)試上，表現(xiàn)都極為出色;但在冗長(zhǎng)的測(cè)試過(guò)程后，false call方面兩設(shè)備的能力相當(dāng)，但在escape方面，KS200不論是on line ，injected faults及programming ability上均有較佳的表現(xiàn)，而且在programming上的觀察，KS200也優(yōu)于SJ50，尤其在off line programming的表現(xiàn)，更令人印象深刻，它可將欲編寫程序機(jī)板的影像先掃描10-20pcs下來(lái)，以off line方式完成程序的編寫及仿真，且直接上線就可獲得不錯(cuò)的表現(xiàn)，完全不占用生產(chǎn)線的工時(shí)，在加上前述的幾項(xiàng),就技術(shù)面整體而言，KS200是優(yōu)于SJ50的。 |
| 2樓 FLYER 2004-04-16 22:28:33 |
| AOI 評(píng)估報(bào)告 評(píng)估對(duì)象 SJ50 Agilent KS200 CyberOptic 評(píng)估項(xiàng)目 1. GR&R 2. Cycle Time 3. Escape 4. False call 5. Injected faults 6. Programming 7. SPC 評(píng)估流程 4/29 – 5/5 Off line Setup P80 Programming Tuning GR&R test 5/6 – 5/15 On line KS200 solder side SJ50 component side False call test Escape test Cycle time 5/16 – 5/25 SJ50 solder side SJ50 can’t install ,because the width of equipment over 1000mm. KS200 component side ( 5/22 move out from line ) 5/27 – 5/31 New programming test ( change to 5/23,5/24 ) Injected faults test SPC tools review 各評(píng)估項(xiàng)目,依其重要性分述于下 一. GR&R 因SJ50( Agilent )及KS200( CyberOptic )均有X、Y坐標(biāo)的量測(cè)功能，故以Gauge R&R 對(duì)其量測(cè)的再現(xiàn)性做一評(píng)估與比較。SJ50在第一次的測(cè)量中，由于BGA之光源設(shè)定不當(dāng)，造成BGA部分?jǐn)?shù)據(jù)較差，雖在第二次測(cè)量時(shí)進(jìn)行了修正及調(diào)整，但整體而言，KS200仍略優(yōu)于SJ50，且X、Y數(shù)據(jù)較為平均。 請(qǐng)參閱AOI GR&R Report。 二. Cycle Time 以目前公司SMT產(chǎn)線的Layout組態(tài)，均以四高一泛( SS )及三高一泛( CS )居多，大多數(shù)機(jī)種的cycle time 都控制在40秒左右，此次on line測(cè)試的機(jī)種P80也不例外，故AOI cycle time目標(biāo)定為35秒。 就cycle time言，SJ50有較突出的表現(xiàn)，以P80 Component Side，零件數(shù)548， cycle time計(jì)33秒; 而當(dāng)programming ability測(cè)試時(shí)，機(jī)種為YA1，零件數(shù)1370，cycle time計(jì)37秒( SMT產(chǎn)線cycle time為54秒 )，其cycle time受零件數(shù)多寡影響不大，足以滿足公司之需求。 而KS200在on line階段，cycle time均無(wú)法達(dá)到目標(biāo)要求 ，測(cè)試YA1時(shí)更長(zhǎng)達(dá)68秒。故CyberOptic于5/28更換其Server，由原dual 1.7GHz CPU system 升級(jí)為dual 2.4GHz CPU system，預(yù)計(jì)可提升30%之效能。實(shí)際測(cè)量后，P80SS、P80CS、YA1SS的cycle time分別為30、31、39，亦均能符合公司之需求。 但至終，在cycle time方面SJ50仍優(yōu)于KS200。 請(qǐng)參閱AOI Cycle Time Report。 三. Escape and False call 一周的on line測(cè)試，SJ50及KS200在False call方面的表現(xiàn)相當(dāng)?shù)慕咏?，而且也都相?dāng)?shù)某錾?，均能在極短的內(nèi)將false call降至100dppm以下，且都還有改善的空間。但相對(duì)的在Escape方面，KS200則優(yōu)于SJ50，且在這方面于programming ability 測(cè)試的時(shí)候，也得到相同的結(jié)果。 故于escape及false call這兩個(gè)相對(duì)的指標(biāo)上，整體而言KS200較優(yōu)于SJ50。 請(qǐng)參閱AOI Escape Test及AOI False Call Test Report。 四.Injected Faults Test 此項(xiàng)目中，共刻意制造了19個(gè)不良現(xiàn)象，SJ50共漏測(cè)5項(xiàng)，KS200則漏測(cè)1項(xiàng)，雖在Tuning后均可偵測(cè)到所有不良現(xiàn)象，但在這一項(xiàng)目，KS200仍優(yōu)于SJ50。 兩者在這方面的差異是:SJ50在完成程序之初，同時(shí)也完成檢驗(yàn)的一些基本限制，而當(dāng)有除外狀況發(fā)生時(shí)(即escape)，再新增限制條件于程序中或Library中，而這種除外狀況會(huì)因Library的增加及程序的調(diào)整而獲得改善；KS200則在程序完成之初，便擁有較嚴(yán)謹(jǐn)?shù)南拗茥l件，故一開(kāi)始可能有較高的false call，但隨著程序的調(diào)整，這狀況也隨之改善。 事實(shí)上，這一項(xiàng)目也是一種escape的測(cè)試，主在彌補(bǔ)bare board test的不足。 請(qǐng)參閱AOI Injected Faults Test Report。 五.Programming Ability 由于程序能力包含了花費(fèi)的時(shí)間、程序的品質(zhì)、程序的維護(hù)及調(diào)整，而這中間又都互有關(guān)系，并不容易單項(xiàng)一一抽出檢驗(yàn)，故在此以時(shí)間及板數(shù)為限制， 并且測(cè)試兩次，第一次主要檢驗(yàn)其程序之品質(zhì)，第二次則為檢驗(yàn)其程序之調(diào)校能力。 其結(jié)果，KS200在escape方面有較好的表現(xiàn)，但在false call則以SJ50有較佳的表現(xiàn)，但將false call的內(nèi)容一一檢視，則會(huì)發(fā)現(xiàn)有六種材料是2nd source，它們?cè)隗w積或外觀上有某些程度的差異，若把這六種2nd source材料排除在false call外，則兩方的false call是一樣的。 請(qǐng)參閱Programming ability Evaluation Report。 六.SPC Tools SPC則雙方各有優(yōu)點(diǎn)，SJ50以pgo file為程序基礎(chǔ)，再以五種chart配合其Filter的功能，可對(duì)P&P machine、feeder、location、P/N、package等進(jìn)行分析，亦可進(jìn)行cpk之計(jì)算，進(jìn)而了解生產(chǎn)線的制程能力，但以pgo編寫程序有一缺點(diǎn)，即生產(chǎn)線若重新最佳化，pgo組態(tài)亦隨之變更，這意味AOI程序也要隨之更動(dòng)，否則其machine及feeder之分析功能亦隨之喪失。而KS200則以原始cad編寫程序,也無(wú)cad與pgo的關(guān)聯(lián)文件，故無(wú)machine及feeder的分析能力，亦無(wú)cpk之計(jì)算功能，至于其它功能則與SJ50相若，但它有一優(yōu)點(diǎn)，即它可透過(guò)網(wǎng)絡(luò)上任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)，在不需安裝其它軟件下，以Browser觀察生產(chǎn)線的品質(zhì)狀況，且是real time的。故SJ50的SPC重于分析，KS200則易于使用。 請(qǐng)參閱AOI SPC Tools。 七.Other SJ50以X、Y軸 承載CCD及光源設(shè)備，逐一對(duì)機(jī)板一個(gè)個(gè)區(qū)域行檢驗(yàn)，在取得影像同時(shí)，便完成該區(qū)域之運(yùn)算;而KS200則恰恰相反，KS200以固定的 CCD Array及光源，以convoyer移動(dòng)機(jī)板來(lái)進(jìn)行影像擷取，待所有影像擷取完畢，再一次完成運(yùn)算，由于算法的關(guān)系，其運(yùn)算時(shí)間甚至比影像擷取要來(lái)得久。 由上述可知，兩設(shè)備在結(jié)構(gòu)上有極大的差異，雖SJ50的X、Y軸相較于SMT設(shè)備而顯得單純，但KS200相對(duì)顯得更為簡(jiǎn)單，這有利于往后的維修及保養(yǎng)。 在設(shè)備所能檢測(cè)之最大機(jī)板，SJ50為465*440mm，足應(yīng)付現(xiàn)有及未來(lái)之需求；KS200則為508*305mm，而目前公司寬度最寬之NB為270mm，亦足應(yīng)付現(xiàn)有任何一機(jī)種，但若未來(lái)或其它BU有超過(guò)300mm之機(jī)種，則需注意此限，或?qū)S200之CCD數(shù)量由12增為18，則其檢驗(yàn)最大機(jī)板則增為508*440mm。 結(jié)論 兩設(shè)備在AOI的規(guī)格、配備及實(shí)際測(cè)試上，表現(xiàn)都極為出色;但在冗長(zhǎng)的測(cè)試過(guò)程后，false call方面兩設(shè)備的能力相當(dāng)，但在escape方面，KS200不論是on line ，injected faults及programming ability上均有較佳的表現(xiàn)，而且在programming上的觀察，KS200也優(yōu)于SJ50，尤其在off line programming的表現(xiàn)，更令人印象深刻，它可將欲編寫程序機(jī)板的影像先掃描10-20pcs下來(lái)，以off line方式完成程序的編寫及仿真，且直接上線就可獲得不錯(cuò)的表現(xiàn)，完全不占用生產(chǎn)線的工時(shí)，在加上前述的幾項(xiàng),就技術(shù)面整體而言，KS200是優(yōu)于SJ50的。 |